Новости
| Новости | Почта | Работа | Бизнес-сеть | IT-календарь | Выставки | Wi-Fi в Украине |


Бизнес
Аналитика
Hardware
Программы
Коммуникации
Интернет
Googlopedia
Технологии
Безопасность
Развлечения
События
Социальные сети
Лаборатория
Интервью
Прочее
Пресс-релизы
Apple
Реклама
IT образование



Архив новостей
Экспорт новостей
Реклама на сайте
Редакция
Обратная связь

 Подписка на RSS

microsoft Интернет Google Apple телефон реклама Intel samsung Китай США сервис iPhone память сеть процессор IBM AMD социальная сеть Хакер nokia домен Игра Видеокарта браузер ноутбук ОС блог программа Sony суд рынок Яндекс оператор Youtube отчет Beeline Yahoo работа видео цензура связь статистика мобильный телефон вирус Cisco Ноутбук уанет МТС Linux Киевстар

ITUA на карте интернета!




29-07-2008 17:10 Новости - Hardware

SanDisk увеличит долговечность SSD


Использовать показатель Longterm Data Endurance (LDE) предложила компания SanDisk. LDE сводит оценку ожидаемого срока службы твердотельного диска к одному числу. Компания надеется, что отрасль примет указанный подход в качестве стандарта de facto.

Напомним, что относительно небольшое количество циклов записи флэш-памяти является ограничивающим фактором в распространении SSD. Отрасль испытывает недостаток единого, стандартного показателя долговечности устройств. На эту проблему недавно внимание профильный подкомитет отраслевой стандартизирующей организации JEDEC.


Наиболее активным членом подкомитета стал крупнейший в мире производитель HDD Seagate. В будущем году компания рассчитывает начать выпуск SSD. Более того, компания Seagate возглавляет усилия JEDEC по выработке стандартов тестирования SSD, включая методы оценки долговечности, надежности, производительности и срока хранения данных.


Не так давно производители пользовались количеством циклов записи-стирания одного чипа NAND. Сейчас предстоит определить, как выполнить такое измерение для SSD, поскольку производители накопителей используют разнообразные контроллеры, в каждом из которых используется своя собственная схема распределения нагрузки, призванная оптимизировать время жизни устройства.


Ключевым тестом при определении LDE, как заявляют в SanDisk, должно стать измерение общего количества данных, которое можно записать в накопитель за весь срок его эксплуатации (соответствующая величина получила обозначение TBW — Terabytes written).


На сегодняшний день нет ответа, будет ли принят подход SanDisk. Известно, что SanDisk проверила его в своих лабораториях и поделилась результатами с производителями ПК и ОС, связав их соглашением о неразглашении. Остается дождаться момента, когда заинтересованные стороны официально выскажут свое мнение о предложении SanDisk

itua.info

Также по теме:
  • Intel разрабатывает второе поколение SSD-накопителей
  • Western Digital выходит на рынок SSD-накопителей
  • WD выпустила в продажу новые SSD-накопители SiliconDrive III
  • Новая серия SSD накопителей от PhotoFast


  • Ваш комментарий
    Ваше имя
    Ваш комментарий
    Подписка на новости ITUA. Введите ваш e-mail:

    14:15 30-06-2009
    Opera открывает новый дата-центр в Европе








    Фото дня





    Работа и карьера

    Загрузка...
    Загрузка...

    2004 © ITUA.info. Реклама на сайте